MCU电磁干扰失效分析与软硬件解决方法
介绍了 一个在电磁干扰下的MCU失效案例,通过展示一步步的调试分析以及完成多个对比论证实验,在最终寻求到多种解决方案的同时,也深入体验到不同厂家芯片间的差距.文中对Flash等待周期的影响进行了探讨与论述,由于各厂家在其用户手册都未对此做过多的原理与作用上的阐述,很多用户一知半解、生搬硬套,然而这个概念在各种干扰场景下的理解与使用却有着非常重要的作用.
MCU、STM32、Flash等待周期、电磁干扰
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T62
2023-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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