微控制器内置ADC的精度评测系统
现在MCU内部基本都集成了 ADC,精度也越来越高,但对ADC精度要求较高的客户来说,想要准确评测一款MCU芯片的ADC精度还需要搭建一个精密测量系统.本文重点介绍了一种基于软硬件实现的自动化测量系统,不但能实现ADC精度测量,还可以在测量完成后对ADC关键误差参数进行快速运算,从而实现ADC精度的快速、准确评测.
STM32、ADC、ADC 精度、ADC 误差、EO、EG、ET、EL、ED
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T62
2022-12-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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58-61,66
