一种通用高精度存储式冲击波测试系统设计
针对现有冲击波测试系统精度不足及爆炸测试后易损坏的问题,设计了一种通用式高精度存储式冲击波测试系统.首先,该系统以通用、模块化的总体设计思想,在此基础上把操作面板、传感器、采集电路、存储电路集成一体.测试系统以FPGA为主控芯片,采用ICP型压力传感器,将采集到的信号通过高精度A/D转换器进行数/模转换,并存储在NAND Flash中,待爆炸结束后将数据进行回读.最后通过减小系统体积,降低测试系统被破片击中的概率.多次试验结果表明,该系统在军工领域有较高的工程应用价值.
NAND Flash、存储测试、冲击波、FPGA
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TJ410.6(弹药、引信、火工品)
2021-02-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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54-56,75
