一种简化的MCU程序保护设计
受电磁干扰影响,单片机的程序读取时会出错,最终造成程序走飞和数据出错.目前广泛采用的看门狗技术只对部分程序走飞现象有效,而对程序执行错造成的数据错无效.根据报道的受干扰而造成数据错概率统计数据,计算出引起MCU系统失效的概率已远大于功能安全要求的失效率.为了解决这一问题,需要对读取的程序指令加以检验.国外有的单片机已经添加了这一功能,即纠错编码(ECC).本文建议一种简化的检验功能,它基于并行的CRC检验,提出了求取并行CRC检验逻辑的方法.
单片机、程序纠错编码、并行CRC
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TP302.8(计算技术、计算机技术)
2014-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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