10.3969/j.issn.1009-623X.2012.01.005
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究
SRAM是微机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程，构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算法为主要测试算法，对存储器单元进行故障测试，并将有错误的地址单元映射到备用的存储单元，以确保微机系统稳定运行。
SRAM自测试、故障模型、FPGA、March、C－算法
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TP391(计算技术、计算机技术)
2012-05-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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