10.3969/j.issn.1009-623X.2011.07.022
Cortex-M3的SRAM单元故障软件的自检测研究
@@ 引 言
目前,对于存储单元SRAM的研究都是基于硬件电路来完成,而且这些方法都是运用在生产过程中,但是生产过程并不能完全杜绝SRAM的硬件故障.在其使用过程中,如果SRAM硬件出错,将导致程序出错而且很难被发现.因此在运用的阶段,为防止存储单元损坏而导致系统出错,通过软件的方式对SRAM进行检测是必要的.
SRAM单元、硬件故障、软件、生产过程、存储单元、硬件电路、使用过程、系统、检测、方法、程序
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V24;TP3
2011-12-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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