10.3969/j.issn.1009-623X.2009.09.003
BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术--片内测试(BIST).讲述了片上系统的由来以及两个重要特点.与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、 LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点.
片上系统、片内测试、嵌入式微处理器核、MemBIST、LogicBIST
TN4;TS9
2009-12-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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12-13,17