10.3969/j.issn.1009-623X.2007.03.001
NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试
NAND Flash以其大容量、低价格等优势迅速成为嵌入式系统存储的新宠,因此其上的文件系统研究也日益广泛.本文简要介绍了常用的NAND Flash文件系统YAFFS,并针对YAFFS在均匀损耗和掉电恢复方面进行在线测试.在给出测试结果的同时,着重研究嵌入式软件测试方案和方法;对测试结果进行分析,并提出改进方案和适用环境.
NAND Flash、均匀损耗、软件测试、YAFFS
TP3(计算技术、计算机技术)
2007-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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