SKP和LEIS技术在电化学腐蚀研究中的应用进展
介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展.结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用.展望了两种技术的未来发展趋势.
SKP、LEIS、缝隙腐蚀、点蚀、孔蚀、微生物腐蚀
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O657.1(分析化学)
国家自然科学基金项目51304259,51254001;重庆科技学院研究生科技创新项目YKJCX2014029资助
2017-02-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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