基于扫描探针的金属/有机涂层电化学检测技术的进展
传统电化学检测技术难以深入研究腐蚀的萌生、发展、转移、抑制等过程,而基于扫描探针的电化学检测技术弥补了这一不足.从工作原理和应用现状,简要概述了4种适用于金属/有机涂层体系腐蚀研究的基于扫描探针、具有高空间分辨率的电化学检测技术,分别为扫描电化学显微镜(SECM)、扫描振动电极技术(SVET)、局部电化学阻抗谱(LEIS)、扫描开尔文探针技术(SKP).4种电化学检测技术均利用金属/有机涂层体系电化学的不均一性,通过检测电流、电压或者阻抗等信号,从微观上反映该体系腐蚀的全过程.基于扫描探针的电化学检测技术的发展及应用,能够从微观上解释金属/有机涂层体系腐蚀发生、发展过程及机理.
电化学检测技术、金属/有机涂层体系、扫描探针、SECM、SVET、LEIS、SKP
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O657.1(分析化学)
海洋公益性行业科研项目2013418026-3资助
2016-06-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
37-40,47
