10.3969/j.issn.1001-0645.2012.08.014
光路失效分析的检测方法研究
为提高激光点火的可靠性,检测光路中存在光纤的弯曲、端面污染、划痕或烧蚀等失效因素造成的损耗,经过双向色膜和双光纤探测器的结构设计,建立了一套双光纤、双光源的自检系统,使检测光的接收率达到6%以上.实验结果表明,获得的光纤损耗在650 nm检测光和808 nm发火光下损耗半经验公式,从检测光路损耗能推导出发火光路损耗,解决了激光点火技术在工程实际应用中自检测难题.
激光技术、自检(BIT)系统、双向色膜、双光纤探测器、损耗
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TN253(光电子技术、激光技术)
2012-11-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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