CCD像元尺寸对移相干涉术相位测量精度的影响
针对移相干涉术中CCD探测器采集高密度干涉条纹的过程,对影响相位测量精度的主要因素进行了理论分析和仿真研究.结果表明,随着CCD像元尺寸及随机噪声标准差的增大,CCD探测得到的时域光强信号信噪比降低,引入的相位测量误差也增大.当信噪比约高于24时,相位测量精度可优于π/50 rad,折合成光程差即优于λ/100,为后续研究扩展移相干涉术的测量范围提供了理论上的定量依据.
移相干涉术、像元尺寸、相位测量精度、信噪比
31
TB96(计量学)
国家自然科学基金资助项目60578053
2012-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
1071-1074
