一种高精度CCD测试系统的非均匀性校正方法
针对高精度光电耦合器件(CCD)测试系统中像素的非均匀性给测试结果带来较大误差的问题,根据引起图像像素非均匀性噪声的特性,建立了对应的图像模型. 采用自适应阈值分割算法将图像二值化分离出有效使用像素,并提出了一种采用两点线性方法对非均匀性像素进行校正的算法. 仿真实验采用高速面阵CCD采集由激光器发射的圆形光斑图像,并通过计算图像光斑的中心坐标进行了验证. 结果表明,该算法能够将图像的复杂背景与光斑分离,可校正其像素的非均匀性,稳定光斑的像素灰度值. 在相同条件下连续采集图像,图像光斑的中心坐标稳定.
CCD图像、非均匀性校正、两点线性算法、自适应阈值分割算法
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TN386.5;TP391.4(半导体技术)
北京市产学研科研基金资助项目1010013020105
2010-07-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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