10.3969/j.issn.1001-0645.2005.z1.016
Ne气负脉冲电晕放电等离子体电子温度测量
依据荧光发射谱谱线强度正比于激发态粒子数原理,通过测量不同激发态能级所发射荧光谱线的相对强度,对Ne气脉冲电晕放电等离子体平均电子温度随峰值电压、样品气压的变化以及有效电子温度的时间行为进行了实验研究.结果表明,平均电子温度随放电峰值电压、样品气压均呈现近线性的变化趋势;而有效电子温度随时间变化先于脉冲电晕放电电流的变化.
电晕放电、荧光发射谱、电子温度
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O461.2(真空电子学（电子物理学）)
2005-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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