10.3969/j.issn.1001-0645.2005.12.015
光致聚合材料收缩对谱面全息存储的影响
为了分析光致聚合材料记录的谱面全息图在再现过程中发生"擦除"现象,将谱面全息图看作由不同角谱的物光与参考光在光致聚合材料内形成的不同倾斜角度的光栅总和.使用二波耦合理论分析全息图像再现时,由于光致聚合材料发生形体收缩,不同倾斜程度的光栅发生不同程度的变形,产生不同程度的布拉格失配带来的衍射效率变化.理论分析表明,材料收缩越严重,全息图再现质量越差.实验证明了理论分析的正确性,并表明使用无收缩光致聚合材料可以消除这种"擦除"现象.
光致聚合材料、二波耦合理论、体全息存储
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TN104.3(真空电子技术)
科技部科研项目G19903305
2006-02-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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