基于光谱分析的强度调制器半波电压测量
为了提高信息容量,调制器的调制信号已经发展到Ka微波频段,频率往往大于10 GHz,带宽达到几十GHz. 这使得其半波电压会发生明显的变化,进而直接影响到调制器的调制效率以及光谱特性. 将光谱分析法推广到强度调制器半波电压的测量中,理论分析了 MZM 调制器( Mach-Zehder modulator, MZM )在射频( radio frequency,RF)信号调制下的输出光光谱特性,利用调制边带强度比计算调制器在不同的调制频率和调制功率下的半波电压. 实验结果表明:MZM调制器半波电压随着输入射频频率的增加而上升,且与输入调制功率的变化相比,调制频率的变化对调制器半波电压的影响更大. 针对不同调制条件下对强度调制器的半波电压进行测量,可为优化设计微波光子链路提供基础数据,对提高系统的传输性能具有重要实用意义.
强度调制器、半波电压、边带强度比、光谱分析法
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U461;TP308(汽车工程)
国家自然科学基金资助项目61372061;高等学校博士学科点专项科研基金资助项目20121103120003;北京市教育委员会科技计划资助项目KM201310005031
2016-01-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
1867-1871
