半导体激光阵列快轴准直特性
为解决大功率半导体激光阵列快轴准直镜装调缺乏定量研究的问题,利用光线传输矩阵法和CCD成像法,获得其准直后光束的指向和发散角.对比半导体远场特性分析仪测量准直后的残余发散角可知,利用光线传输矩阵法和CCD成像法测量角度,测量误差可以控制在13％以内,CCD成像法可作为调整半导体激光阵列准直的有效监测手段.同时,测试6个自由度上准直镜的位置对快轴准直的影响,分析各轴上准直镜位置的允许偏差量,为全自动装调快轴准直镜的算法优化提供了实验基础.结果表明:快轴准直镜装调对各轴运动精度要求不同,尤其对y轴运动精度要求最高.
半导体激光阵列、准直、发散角、光线传输矩阵、CCD成像
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TN248.4(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金资助项目61006040
2014-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
1298-1301
