扫描电镜中纳米材料的原位操纵和动态观察
介绍了配置在扫描电镜(SEM)中的微操纵仪(MMS)的操作原理、性能及应用.MMS在水平转动(X轴),上下转动(Y轴)和线性进退(Z轴)的移动精度分别达到5,3.5,0.25 nm.利用具有纳米精度的移动和定位的MMS,对BiVO4晶体、硅藻土、蛋白石和ZnO纳米线等纳米材料进行了原位操纵和动态观察.该装置可操纵质量为纳克级,尺寸为几百纳米至几微米的样品.SEM-MMS系统为原位分析纳米材料提供了一种崭新的手段.
微操纵仪、扫描电镜(SEM)、蛋白石、纳米线
34
TN16(真空电子技术)
国家自然科学基金资助项目60171024;北京市教委基金资助项目KM200610005030
2015-07-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
429-433
